Компоненты  »  Пассивные компоненты  »  Кристаллы и осцилляторы  »  Кристаллы

Raltron Electronics
A-8.000-18

Crystal 8MHz ±30ppm (Tol) ±50ppm (Stability) 18pF FUND 30Ohm 2-Pin HC-49/U Thru-Hole T/R

Цена от 14,29 ₽ до 291,17 ₽

Наличие Raltron Electronics A-8.000-18 на складах.

Дистрибьютор
Наличие и цена
Farnell
На складе 531 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 15:11 04.03.2021
291,17 ₽ от 1 шт.
206,59 ₽ от 10 шт.
184,41 ₽ от 25 шт.
162,23 ₽ от 50 шт.
138,65 ₽ от 100 шт.
116,47 ₽ от 500 шт.
110,92 ₽ от 1000 шт.
109,54 ₽ от 2500 шт.
Newark
На складе 531 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 03:26 05.03.2021
14,29 ₽ от 1 шт.
14,29 ₽ от 10 шт.
14,29 ₽ от 25 шт.
14,29 ₽ от 50 шт.
14,29 ₽ от 100 шт.
14,29 ₽ от 500 шт.
Verical
На складе 531 шт.
MOQ 407 шт.
Обновлено 17:40 05.03.2021
16,75 ₽ от 407 шт.
Quest
На складе 390 шт.
Обновлено 14:13 05.03.2021
65,04 ₽ от 1 шт.
52,03 ₽ от 10 шт.
32,52 ₽ от 46 шт.
19,51 ₽ от 215 шт.
Component Electronics
На складе 59 шт.
Обновлено 21:59 24.02.2021
67,01 ₽ от 1 шт.
element14 APAC
На складе 531 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 02:46 06.03.2021
45,69 ₽ от 1 шт.
37,26 ₽ от 10 шт.
31,51 ₽ от 25 шт.
27,87 ₽ от 50 шт.
25,09 ₽ от 100 шт.
23,37 ₽ от 500 шт.
22,22 ₽ от 1000 шт.

Технические характеристики Raltron Electronics A-8.000-18, атрибуты и параметры.

Equivalent Series Resistance (ESR):
30.0 Ω
Частота:
8.00 MHz
Емкость нагрузки:
18.0 pF
Mounting Style:
Through Hole
Рабочая Температура:
70.0 °C (max)
Количество выводов:
2
RoHS:
Compliant
  • Crystal 8MHz ±30ppm (Tol) ±50ppm (Stability) 18pF FUND 30Ohm 2-Pin HC-49/U Thru-Hole T/R
  • RAL TH HC49U CRYSTAL 8.000MHZ 50/100PPM
  • CRYSTAL, HC49/US, THT, 8.000MHZ
  • Кристалл, 8 МГц, 18Pf, Hc-49U
  • Frequency Nom:8Mhz
  • Crystal Case:through Hole, 11Mm X 4.65Mm
  • Frequency Stability + / -:50Ppm
  • Load Capacitance:18Pf
  • Frequency Tolerance + / -:30Ppm
  • Product Range:a Series
  • Тип кристалла: микропроцессор Соответствие Rohs: Да

Документы по Raltron Electronics A-8.000-18, инструкции, описания, datasheet.

Товары похожие на Raltron Electronics A-8.000-18, сравнение характеристик.