Компоненты  »  Интегральные схемы (ИС)  »  объем памяти  »  вспышка

Microchip
SST38VF6402-90-5I-EKE

Parallel Flash, 2.7 - 3.6 V, 64 Mbit, x16, 90 ns, -40°C to +85°C, TSOP-48, RoHS

Цена от 408,29 ₽ до 790,95 ₽

Наличие Microchip SST38VF6402-90-5I-EKE на складах.

Дистрибьютор
Наличие и цена
Verical
На складе 54 шт.
MOQ 2 шт.
Обновлено 17:40 05.03.2021
418,79 ₽ от 2 шт.
413,77 ₽ от 25 шт.
408,29 ₽ от 100 шт.
Arrow Electronics
На складе 54 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 16:20 05.03.2021
435,54 ₽ от 1 шт.
430,32 ₽ от 25 шт.
424,63 ₽ от 100 шт.
Microchip
На складе 2334 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 12:35 05.03.2021
Упаковка Tray
790,95 ₽ от 1 шт.
763,07 ₽ от 25 шт.
732,87 ₽ от 100 шт.
693,39 ₽ от 1000 шт.
652,73 ₽ от 5000 шт.
Mouser
На складе 208 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 19:48 05.03.2021
Упаковка Tray
760,53 ₽ от 1 шт.
760,53 ₽ от 10 шт.
733,72 ₽ от 50 шт.
704,69 ₽ от 100 шт.
704,69 ₽ от 1000 шт.
704,69 ₽ от 10000 шт.
Digi-Key
На складе 13 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 14:47 05.03.2021
Упаковка Tray
760,53 ₽ от 1 шт.
733,72 ₽ от 25 шт.
704,69 ₽ от 100 шт.
Corohmni
На складе 95 шт.
Обновлено 16:42 28.02.2021
Цена по запросу.
Kenton Components
На складе 120 шт.
Обновлено 01:05 01.03.2021
Цена по запросу.
Arrow.cn
На складе 54 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 15:47 05.03.2021
481,19 ₽ от 1 шт.
473,87 ₽ от 25 шт.
469,12 ₽ от 100 шт.

Технические характеристики Microchip SST38VF6402-90-5I-EKE, атрибуты и параметры.

Тип корпуса / Кейс:
TSOP
Lead-Free Status:
Lead Free
Статус жизненного цикла:
Active
Mounting Style:
Surface Mount
Рабочая Температура:
-40.0 °C to 85.0 °C
Упаковка:
Tray
RoHS:
Compliant
  • Parallel Flash, 2.7 - 3.6 V, 64 Mbit, x16, 90 ns, -40°C to +85°C, TSOP-48, RoHS
  • SST38VF Series 64 Mbit 4 M x 16 3.3 V Advance Multi-Purpose Flash Plus - TSOP-48
  • NOR Flash Parallel 3.3V 64M-bit 4M x 16 90ns 48-Pin TSOP Tray
  • 2.7V to 3.6V 64Mbit pm Parallel Advanced MPF+ 48 TSOP 12x20mm TRAY RoHS Compliant: Yes

Документы по Microchip SST38VF6402-90-5I-EKE, инструкции, описания, datasheet.

Товары похожие на Microchip SST38VF6402-90-5I-EKE, сравнение характеристик.