Компоненты  »  Датчики  »  Датчики движения  »  Акселерометры

NXP Semiconductors
MMA8452QT

Серия MMA8452 ± 2 / ± 4 / ± 8 g 3-осевой 12-битный / 8-битный цифровой акселерометр - QFN-16

Цена от 100,27 ₽ до 337,40 ₽

Наличие NXP Semiconductors MMA8452QT на складах.

Дистрибьютор
Наличие и цена
RS Components
На складе 455 шт.
MOQ 5 шт.
Обновлено 23:28 03.03.2021
337,40 ₽ от 5 шт.
256,51 ₽ от 25 шт.
RS Components
На складе 130 шт.
MOQ 5 шт.
Обновлено 23:28 03.03.2021
256,51 ₽ от 25 шт.
Win Source Electronics
На складе 80 шт.
MOQ 45 шт.
Обновлено 13:14 03.03.2021
148,43 ₽ от 45 шт.
122,51 ₽ от 105 шт.
118,82 ₽ от 165 шт.
115,14 ₽ от 225 шт.
111,33 ₽ от 290 шт.
100,27 ₽ от 385 шт.
Ampacity Systems
На складе 133 шт.
Обновлено 17:16 27.02.2021
Цена по запросу.
Component Electronics
На складе 45 шт.
Обновлено 21:59 24.02.2021
265,22 ₽ от 1 шт.
iodParts
На складе 645 шт.
Обновлено 14:32 04.03.2021
Цена по запросу.

Технические характеристики NXP Semiconductors MMA8452QT, атрибуты и параметры.

Halogen Free Status:
Halogen Free
Lead-Free Status:
Contains Lead
Статус жизненного цикла:
Active
Mounting Style:
Surface Mount
Рабочая Температура:
-40.0 °C to 85.0 °C
Количество выводов:
16
REACH SVHC Compliance:
No SVHC
RoHS:
Compliant
Supply Voltage (DC):
3.60 V (max), 1.95 V (min)
  • Серия MMA8452 ± 2 / ± 4 / ± 8 g 3-осевой 12-битный / 8-битный цифровой акселерометр - QFN-16
  • Accelerometer Triple ±2/±4/±8g 1.95V to 3.6V 16-Pin QFN Tray
  • Accelerometer, I2C, 1.91-3.6V, XYZ, 2/4/8g, 12bit, QFN 16, Tray
  • ACCELEROMETER, 12/8BIT, 3AXIS, 16QFN
  • Acceleration Range:± 2g, ± 4g, ± 8g
  • No. of Axes:3
  • Тип интерфейса: I2C, последовательный
  • Sensor Case Style:QFN
  • Количество контактов: 16
  • Supply Voltage Range:1.95V to 3.6V
  • Диапазон рабочих температур: от -40 ° C до + 85 ° C
  • MSL: MSL 3 - 168 часов
  • SVHC: Нет SVHC (19 декабря 2011 г.)
  • Interface:I2C
  • Sensitivity:1024counts/g

Документы по NXP Semiconductors MMA8452QT, инструкции, описания, datasheet.

Товары похожие на NXP Semiconductors MMA8452QT, сравнение характеристик.