Компоненты  »  Пассивные компоненты  »  Конденсаторы  »  Керамические конденсаторы

TDK
C3216X7R1V475M160AB

Cap Ceramic 4.7uF 35V X7R 20% SMD 1206 125°C Punched Paper T/R

Цена от 24,69 ₽ до 86,36 ₽

Наличие TDK C3216X7R1V475M160AB на складах.

Дистрибьютор
Наличие и цена
Mouser
На складе 18914 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 19:43 10.02.2021
Упаковка Tape & Reel
86,36 ₽ от 1 шт.
51,15 ₽ от 10 шт.
51,15 ₽ от 50 шт.
43,29 ₽ от 100 шт.
29,23 ₽ от 1000 шт.
24,69 ₽ от 10000 шт.
Digi-Key
На складе 4000 шт.
MOQ 2000 шт.
Обновлено 14:29 10.02.2021
Упаковка Tape & Reel
27,40 ₽ от 2000 шт.
25,58 ₽ от 4000 шт.
Digi-Key
На складе 5344 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 14:29 10.02.2021
Упаковка Cut Tape
86,36 ₽ от 1 шт.
63,99 ₽ от 10 шт.
51,15 ₽ от 50 шт.
43,84 ₽ от 100 шт.
34,71 ₽ от 500 шт.
29,23 ₽ от 1000 шт.
Verical
На складе 1770 шт.
MOQ 72 шт.
Обновлено 17:52 10.02.2021
36,28 ₽ от 72 шт.
33,46 ₽ от 1000 шт.
Hamilton Americas
На складе 872 шт.
Обновлено 17:44 01.02.2021
Цена по запросу.
Lucentia Tech
На складе 284 шт.
Обновлено 22:02 01.02.2021
Цена по запросу.
Chip One Stop Japan
На складе 1770 шт.
MOQ 5 шт.
Обновлено 11:22 10.02.2021
Упаковка Cut Tape
35,88 ₽ от 5 шт.
33,02 ₽ от 50 шт.
30,52 ₽ от 1000 шт.

Технические характеристики TDK C3216X7R1V475M160AB, атрибуты и параметры.

Емкость:
4.70 µF
Capacitance Tolerance:
±20%
Тип корпуса / Кейс:
1206
Case/Package (SI):
3216
Dielectric Characteristic:
X7R
Диэлектрический материал:
Ceramic Multilayer
Lead-Free Status:
Lead Free
Mounting Style:
Surface Mount
Упаковка:
Reel
RoHS:
Compliant
Size-Length:
3.20 mm
Size-Thickness:
1.60 mm
Size-Width:
1.60 mm
Номинальное напряжение (постоянный ток):
35.0 V
  • Cap Ceramic 4.7uF 35V X7R 20% SMD 1206 125°C Punched Paper T/R
  • Cap Ceramic 4.7uF 35V X7R 20% Pad SMD 1206 125C Low ESR T/R
  • General Purpose MLCC, 1206, X7R, 35V, 4.7 F, 20%, 1.60mm
  • EIA CASE SIZE: 1206, VOLTAGE: 35, CAP VALUE: 475, TOL: +/-20%, THICKNESS: 1.60 ± 0.20

Документы по TDK C3216X7R1V475M160AB, инструкции, описания, datasheet.

Товары похожие на TDK C3216X7R1V475M160AB, сравнение характеристик.