Компоненты  »  Интегральные схемы (ИС)  »  РЧ полупроводники и устройства

Analog Devices
ADALM-PLUTO

AD9363 RF Transceiver Development Kit

Цена от 16 718,65 ₽ до 19 234,53 ₽

Наличие Analog Devices ADALM-PLUTO на складах.

Склад
Наличие и цена
Америка 7
В наличии до 8283 шт.
MOQ от 1 шт.
Цена от 16 718,65 ₽ до 19 044,45 ₽
США
На складе 199 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 17:48 28.02.2021
16 718,65 ₽ от 1 шт.
США
На складе 1129 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 19:56 26.02.2021
Упаковка Bulk
16 830,86 ₽ от 1 шт.
16 830,86 ₽ от 10 шт.
16 830,86 ₽ от 50 шт.
16 830,86 ₽ от 100 шт.
16 830,86 ₽ от 1000 шт.
16 830,86 ₽ от 10000 шт.
США
На складе 946 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 14:16 28.02.2021
Упаковка Bulk
16 830,86 ₽ от 1 шт.
США
На складе 199 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 16:08 28.02.2021
17 387,40 ₽ от 1 шт.
США
На складе 19 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 16:08 28.02.2021
17 387,40 ₽ от 1 шт.
США
На складе 25 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 15:29 27.02.2021
19 044,45 ₽ от 1 шт.
18 793,56 ₽ от 3 шт.
18 549,67 ₽ от 5 шт.
18 080,56 ₽ от 10 шт.
17 854,17 ₽ от 25 шт.
США
На складе 8283 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 17:48 28.02.2021
17 996,62 ₽ от 1 шт.
Азия 2
В наличии до 69 шт.
MOQ от 1 шт.
Цена от 17 270,70 ₽ до 19 234,53 ₽
Япония
На складе 69 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 11:20 01.03.2021
17 270,70 ₽ от 1 шт.
Китай
На складе 19 шт.
MOQ 1 шт.
Обновлено 15:45 28.02.2021
19 234,53 ₽ от 1 шт.

Технические характеристики Analog Devices ADALM-PLUTO, атрибуты и параметры.

Lead-Free Status:
Contains Lead
Статус жизненного цикла:
Active
Количество выводов:
0
REACH SVHC Compliance:
No SVHC
RoHS:
Compliant
  • AD9363 RF Transceiver Development Kit
  • EVAL BOARD, RF AGILE TRANSCEIVER
  • Eval Board, Rf Agile Transceiver
  • Silicon Manufacturer:analog Devices
  • Silicon Core Number:ad9363
  • Kit Application Type:rf / If
  • Application Sub Type:transceiver
  • Kit Contents:eval Board Ad9363
  • Ассортимент продукции: -
  • Svhc: нет Соответствие Svhc Rohs: Да

Документы по Analog Devices ADALM-PLUTO, инструкции, описания, datasheet.

Товары похожие на Analog Devices ADALM-PLUTO, сравнение характеристик.